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SUMMARY:Il nuovo sensore LIF (Laser Induced Fluorescence) IRIS: dalla prog
 ettazione all’applicazione in campo
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CONTACT:valeria.spizzichino@enea.it
DESCRIPTION:Speakers: Valeria Spizzichino (ENEA)\n\n\n\n\n\n\nIntroduzione
 : Luisa Caneve\nProgettazione\, test e prime misure in campo: Valeria Spi
 zzichino\nAspetti tecnici dell’apparato ottico ed elettronico: Federico 
 Angelini\nSoftware di gestione: Simone Santoro\n\n\n\n\n \nNel seminario 
 viene presentato il processo di realizzazione di un innovativo sistema per
  la Fluorescenza Indotta da Laser denominato IRIS (Integrated time-Resolve
 d Imaging Spectroscopy)\, dalla ideazione\, alla progettazione e allo svil
 uppo\, fino ai test di laboratorio e alle prime misure in campo.  Il prot
 otipo sviluppato è l’evoluzione di diversi sistemi laser prototipali a 
 scansione basati sulla tecnica LIF destinati a diversi campi di applicazio
 ne ed è caratterizzato dalla possibilità di rivelare segnali di fluoresc
 enza risolti in tempo. La tecnica LIF permette\, attraverso gli spettri e 
 le immagini di fluorescenza prodotte\, di ottenere informazioni sulla comp
 osizione superficiale del campione analizzato. La possibilità di operare 
 a grandi distanze\, di essere non distruttivi e non invasivi spiega il cre
 scente interesse nell’applicazione di tali sistemi per la conservazione 
 ed il restauro di beni culturali e nelle scienze forensi. La progettazione
  di sistemi portatili sempre più compatti e facilmente trasportabili ha l
 ’obiettivo di ampliare l’utilizzo di tali sistemi\, sia per quanto rig
 uarda la tipologia dei target\, che la platea dei possibili utilizzatori. 
 (OPPURE che le competenze e l’esperienza dei possibili utilizzatori). Il
  sistema sviluppato che sarà presentato è estremamente compatto e di dim
 ensioni ridotte\, in grado di fornire risultati anche di aree di grandi di
 mensioni. Inoltre\, la rivelazione dei segnali di fluorescenza risolti in 
 tempo è favorita\, insieme ad una opportuna ottimizzazione dell’elettro
 nica di controllo\, dall’impiego di una nuova sorgente laser con breve d
 urata dell’impulso (< 2 ns) e alta frequenza di ripetizione (> 200 Hz). 
 L’aggiornamento del sistema\, quindi\, aumenta la rapidità di scansione
  e la capacità di identificare e discriminare materiali superficiali dive
 rsi.\n\n \n \n \n \n\nhttps://agenda.enea.it/event/1160/
LOCATION:Aula Bruno Brunelli  - Edificio F23 (Frascati)
URL:https://agenda.enea.it/event/1160/
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